膜面缺點檢查整合系統由AOI掃描檢查膜面，讀取缺點位置，輸出X.Y缺點座標位置和缺點圖片，記錄在檢查機系統內，缺點圖片顯示在螢幕上；檢查缺點位置曲線會直接在顯示器上呈現。膜面缺點檢查整合系統主要適用產業別如：光學、生技、化工及半導體等。